为海军ATE测试设备开发海量互连V25通用测试接口，提升测试系统的通用性、可移植性和维护效率。
核心思想：从“面向仪器”转向“面向信号”，通过标准化信号链路实现硬件与软件解耦。

二、传统测试系统痛点：

软硬件强耦合：TPS依赖特定仪器，软件无法跨平台复用，硬件更换需重复开发。
成本高企：多型号需多套定制设备，开发/维护成本高；备件种类繁杂，资源浪费严重。
操作复杂低效：人员需精通多设备/软件，培训难、易出错；多系统管理繁琐，故障排查耗时长。
扩展性差：型号增加导致设备堆叠，利用率低；系统孤立，软硬件资源无法共享。

三、解决方案—面向信号的测试方案

1、信号为中心
以电子信号定义测试需求和资源，软件仅关注信号类型，与硬件解耦，测试用例不因硬件更换而修改。

2、通用测试接口（V25 ICA）
集成25列模块化接口槽位，与PXI仪器模块一一对应；支持热插拔，适配不同测试场景。

测试链路流程

完整链路建模确保测试程序能自动解析信号路径，驱动仪器完成激励/测量操作。

四、方案优势

通用性提升:测试用例与硬件解耦，适配不同平台，ICA接口支持热插拔，扩展性强。
降本增效:减少备件种类和开发成本,软件复用率提高，缩短开发周期
可靠性增强：内置自检适配器，支持仪器量程、精度检查，标准化信号链路降低人为操作风险。

该系统通过信号标准化和模块化接口设计，解决了传统ATE系统硬件绑定、维护成本高的问题，为海军装备测试提供高效、灵活且低成本的解决方案。

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